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新着情報

【欠陥検査装置】デモ承ります。

2016年10月03日 お知らせ

半導体製造以外の業界も微細化がドンドン進みサブミクロンデザインも
珍しくなくなってきており、今後は検査工程も少なからず多くなってくる傾向にあります。
サブミクロン測定可能な検査装置は決して安くなく1億円を超えてしまうものが多い状態です。

欠陥検査装置は弊社が得意とする分野であり、中古装置を活用したご提案を
検査装置では投資予算化するのが厳しいお客様へ性能保証且つ安心安全にご利用いただける
サービスを行っております。

現在弊社では下記装置のデモを行っておりますので今後の欠陥検査装置の
導入の選定材料として評価してみてはいかがでしょうか。

【測定可能装置および仕様】

●装置概要 : ウエハ表面の欠陥を検出いたします。
パーティクル・パターン欠損・配線ダメージ・汚れ・傷などが
測定できます。

●デモ可能機種 : KLA-Tencor 2135 (明視野高感度)

●測定欠陥 : 最小欠陥検出粒径  0.25μm

●デモルーム : 横浜テックセンター https://nstj.co.jp/home/company/access

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